上海艾时微技术开发有限公司-膜厚仪-晶圆缺陷检测仪-四探针测试仪

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上海艾时微技术开发有限公司，生产销售膜厚测试仪、液体颗粒计数、台阶仪、膜厚仪、理音、晶圆几何参数测试仪、四探针测试仪、汞探针cv测试仪、晶圆缺陷检测仪、CandelaRion、Filmetrics，聚焦于表面形貌及力学量测，膜厚及电性量测，缺陷检测和成分分析四大领域，立志为科研及半导体领域贡献自己的力量。

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